JK2818自動元件分析儀LCR測試儀數(shù)字電橋
公司名稱：深圳華清儀器儀表有限公司
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公司地址：深圳市龍華新區(qū)三聯(lián)路清泉二期15A2
公司網(wǎng)址:http://www.huaqing17.cn
測試。
技術規(guī)格:
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LCR測量參數(shù)
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C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
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測試頻率
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20 Hz～1MHz,10mHz步進
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測試電平范圍
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f ≤ 1MHz
10mV～5V,±(10%+10mV)
f＞1MHz
10mV～1V,±(20%+10mV)恒電平到5V
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輸出阻抗
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25Ω 50Ω, 100Ω
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基本準確度
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0.1%
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測量速度或測試時間
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快速:80次/s（f﹥30KHz）,100次/s（f﹥1KHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
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等效電路
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串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
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量程方式
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自動, 保持
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觸發(fā)方式
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內部, 手動, 外部，總線
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平均次數(shù)
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1-80
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清零功能
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開路 / 短路掃頻清零 ，負載校準
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內部直流偏置源
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電壓模式:-5V ～ +5V, ±（10%+10mV）, 1mV步進, 電流模式（內阻為50Ω）:-100mA ～ +100mA,
±（10%+0.2mA）,20uA步進
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比較器功能
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十檔：（九檔合格，一檔不合格），另有一個附屬檔
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存儲器
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可保存20組儀器設定值
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接口
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RS232C，HANDLER，
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顯示范圍
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R, X, Z
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Y, B, G
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C
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L
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D
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Q
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θ(DEG)
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Δ%
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DCR
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0.1m Ω ～ 999.999 MΩ
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0.1 nS ～ 99.9999S
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0.001 pF ～ 999.99mF
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0.1nH ～ 9.9999kH
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0.0001 ～ 99999
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0.0001 ～ 99999
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-90.99°～ +90.00°
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-999.99%-999.99%
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0.01mΩ — 99.999 kΩ
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列表掃描
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10點列表掃描
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顯示器
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320×240點陣大型圖形LCD
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測試端
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5端法
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顯示方式
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直讀, ΔABS, Δ%, V/I(電壓/電流監(jiān)示) , 檔號及檔計數(shù)
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簡要介紹:
JK2818高頻自動元件分析儀是采用當前國際*先進的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100 MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，
特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40A直流偏置的高功率測試條件及列表
掃描功能將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。
JK2818高頻自動元件分析儀是電子元件設計、檢驗、質量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設計和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。計算機通訊及測試過程記錄提供了條件。
廣泛的測量對象：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)測量。
半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料：半導體材料的介電常數(shù),導電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。
多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
JK2818高頻自動元件分析儀**的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以**地分析磁性材料、電感器件的性能。使用JK10301選件的100mA DC的偏置電流可以**測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用JK1775電流疊加裝置，可使偏置電流達40A以**分析高功率、大電流電感器件。
**的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是*大測試電壓不夠。使用JK10301選件可提供分辨率為1%及*高達20Vms的可編程測試信號電平，使它能在*佳條件下進行液晶材料的電容特性測量。
半導體材料和元件的測量
進行MOS型半導體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結果推導出來。
20HZ－1MHz的測量頻寬及高達40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至*小。各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內容。
適應多種領域的測試需要 提高生產(chǎn)效率
JK2818高頻自動元件分析儀 30次/秒的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要，從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。內建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。
應用廣泛的品質檢驗手段
儀器具備的20Hz-1MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。
JK10301及JK1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。
用戶友好的操作界面簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結果，各種設定狀態(tài)一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設置
JK2818高頻自動元件分析儀提供有內部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設置，
靈活的數(shù)據(jù)通訊方式
JK2818高頻自動元件分析儀為多機通訊并組成自動測試系統(tǒng)提供了可能，同時，
儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計算機進行遠程通訊。
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比較器功能
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比較器
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測量的參數(shù)值可以分選為10檔
測量得出的副參數(shù)也可以比較輸出IN/OUT信號
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計數(shù)值
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0 — 999999
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列表掃描比較
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掃描列表中的每個點都可以輸出HIGH/IN/LOW信號
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輸入保護
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當充電的電容連上測試端時，內部保護電路工作。 *大可以保護的電容電壓可以由下式推出：
where: Vmax ≤200V C is in Farads
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其他功能
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存儲功能
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外部非易失存儲器可以保存20個儀器的設置文件
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RS232C
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所有的儀器控制參數(shù)，測量值，比較值和掃描列表都可以通過RS232C實現(xiàn)多機通訊或對PC通訊。
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選件
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JK10301
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功率放大/直流偏置 增加交流信號到 20Vrms / 0.2Arms. 擴展直流偏置范圍到 ±40V DC.
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JK10401
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2m / 4m 測試線選件 擴展測試線的長度，增加2m或4m。
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JK10202
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Handler 接口 輸入的9對上下限值可以分選10檔的L、C或|Z|值。
Handler提供與自動分選機相連的接口。所有的信號都是單獨的。
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準確度（細節(jié)請查看操作手冊）
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測試環(huán)境
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熱機時間
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≥30 分鐘
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環(huán)境溫度
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23±5oC
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測試信號電平
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0.3Vrms – 1Vrms
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清零
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開路 和 短路
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測試線長度
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0 m
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|Z|, |Y|, L, C, R, X, G, B
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±[A+(Ka+Kb+Kc)×100] (% of reading)
1. A 是圖1和2中的基本準確度因子
2. Ka and Kb 是阻抗比例因子 Ka 用于阻抗低于 500Ω Kb 用于阻抗高于 500Ω.
3. Kc 是差值校準值. 直接修正頻率時 Kc=0 其他頻率時 Kc=0.0003
4. C, L, B 測量時 D ≤ 0.1 R, G 測量時 Q ≤ 0.1
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D
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±[Ae/100] (D的**值)
當 A=[A+(Ka+Kb+Kc)×100]
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Q (When Qx×De<0.1)
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當, Qx 符合 Qvalue時 De 是 D 的**度
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θ
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DEG
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±[Ae/100] (degress **值)
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RAD
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±[(180/π)×(Ae/100)] (degress **值)
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